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產(chǎn)品中心X射線鍍層測厚儀EDX4500鋁硅鍍層厚度、成分測試 X射線光譜法(XRF)
鋁硅鍍層厚度、成分測試 X射線光譜法(XRF)
產(chǎn)品簡介
| 品牌 | SKYRAY/天瑞儀器 | 行業(yè)專用類型 | 電子產(chǎn)品 |
|---|---|---|---|
| 價格區(qū)間 | 50萬-100萬 | 儀器種類 | 臺式/落地式 |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子/電池,汽車及零部件 |
硅鋁鍍層檢測解決方案
鋁硅鍍層是一種通過熱浸鍍工藝在鋼材表面形成的鋁硅合金鍍層，鍍層中通常含有8%-11%的硅(Si)，其余成分為鋁(Al)。在某些應(yīng)用中，如擴散鍍鋁板，鋁含量約為90%，硅含量約為10%，具有優(yōu)異的耐高溫、耐腐蝕和抗氧化性能，廣泛應(yīng)用于汽車、家電和建筑等行業(yè)。
鋁硅鍍層的制備主要通過以下工藝實現(xiàn)：
- 熱浸鍍工藝：將經(jīng)過預(yù)處理的鋼帶浸入熔融的鋁硅合金鍍液中，在一定溫度與時間下，合金液與鋼材表面發(fā)生反應(yīng)并附著，形成鍍層。
- 兩步法工藝：一種新型制備方法包括先形成鋁硅鍍層，然后利用磁控濺射鍍膜技術(shù)在鍍層鋼板表面進行銅(Cu)薄膜及鋅(Zn)薄膜的沉積，最后通過真空加熱爐進行加熱擴散，制得具備抗菌性能的鋁硅-銅鋅鍍層。
- 鍍層厚度：通常鍍層厚度為10~20μm，鍍層厚度與重量的關(guān)系為：1μm≈3g/m
如何檢測鋁硅鍍層的厚度，以及鍍層中各元素成分比例？常用方法總結(jié)如下：
原理 | 適用范圍 | 優(yōu)點 | 缺點 | |
1. X射線熒光光譜法(XRF)
| 通過X射線照射鍍層表面，鋁硅鍍層中的元素(Al、Si)吸收能量后發(fā)射特征X射線熒光，儀器通過識別熒光波長(定性成分)和強度(定量厚度)，結(jié)合標(biāo)準(zhǔn)曲線或理論模型計算出鍍層厚度。 | 特別適合鋁硅鍍層，可同時分析Al、Si元素含量及厚度 可測量單層或復(fù)雜多層結(jié)構(gòu)的鍍層 適用于金屬基體(如鋼)上的鋁硅鍍層測量范圍：0.005-50μm，精度可達0.005μm，參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 16921-2005（X射線法） | 無損檢測，不破壞樣品 快速高效，單點測量僅需30秒內(nèi) 可同時分析成分與厚度 適合生產(chǎn)線批量檢測 | 設(shè)備價格較高 需要定期校準(zhǔn) 對輕元素(如Li、Be)檢測靈敏度較低
|
2. 金相法 | 將鍍層樣品垂直于鍍層方向切割、鑲嵌、研磨、拋光和腐蝕后，通過金相顯微鏡觀察橫斷面，直接測量鍍層厚度。
| 適用于測量厚度>1μm的鋁硅鍍層 可清晰觀察鋁硅鍍層的多層結(jié)構(gòu)特征（如外層純Al層、中間Fe-Al-Si三元合金層、內(nèi)層Fe-Al合金層） 參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 6462-2005、ISO 1463、ASTM B487 | 精度高（可達0.1μm） 直觀觀察鍍層微觀結(jié)構(gòu) 可評估鍍層與基體的結(jié)合狀態(tài)（如是否有氣泡、脫落） 適用于仲裁和校驗其他測厚方法 | 破壞性檢測，需制備樣品 樣品制備過程耗時較長 不適合大批量生產(chǎn)檢測
|
3. 掃描電鏡法(SEM)
| 與金相法類似，但使用掃描電子顯微鏡觀察鍍層橫斷面，配備能譜儀(EDS)可同時分析各層元素成分。
| 測試范圍寬：0.01μm~1mm 適用于鋁硅鍍層的精細結(jié)構(gòu)分析 可清晰分辨鍍層中的Al、Si元素分布 | 分辨率高，可觀察納米級結(jié)構(gòu) 配備EDS可進行元素成分分析 適合科研和質(zhì)量分析 | 破壞性檢測 設(shè)備成本高 樣品制備要求高 |
4. 庫侖法(電解法)
| 將鍍層樣品作為陽極放入適當(dāng)電解液中，通過測量電解過程中消耗的電量計算鍍層厚度。
| 適合測量單層和多層金屬覆蓋層，測量范圍：0-35μm，精度：0.01μm，參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 4955-2005、ISO 2177、ASTM B504 | 精度高，是仲裁方法 可測量多層鍍層的各層厚度 適用于平面和圓柱形樣品 | 破壞性檢測 操作過程較復(fù)雜 需嚴(yán)格控制電解條件
|
選擇建議：
- 快速檢測：X射線熒光光譜法，快速無損，適合批量檢測
- 質(zhì)量仲裁與校驗：采用金相法，精度高，結(jié)果直觀可靠
- 科研分析與結(jié)構(gòu)研究：使用掃描電鏡法，可同時分析結(jié)構(gòu)與成分
- 高精度仲裁測量：選擇庫侖法，是國際認(rèn)可的仲裁方法
天瑞儀器參與制定GB/T 16921-2005 金屬覆蓋層厚度測量X射線光譜法，經(jīng)過多年潛心研究，利用真空技術(shù)，檢測鋁硅鍍層的厚度，以及鍍層中各元素成分比例。
根據(jù)GB/T 16921-2005 金屬覆蓋層厚度測量X射線光譜法，測試Fe-Al/Si，其測試譜圖如下：
可以清楚的看到 Al、Si的元素峰出現(xiàn)，根據(jù)其數(shù)據(jù)模型匹配以及基本參數(shù)法(FP算法），可以計算出鍍層厚度，以及鍍層中Al、Si元素的成分比例。
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