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當前位置:首頁產品中心X射線膜厚儀THICK8000膜厚測試儀供應

THICK8000膜厚測試儀供應

產品簡介

Thick 8000膜厚測試儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型儀器。THICK8000膜厚測試儀供應

產品型號:
更新時間:2025-05-30
廠商性質:生產廠家
訪問量:1296
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Thick 8000膜厚測試儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型儀器。

 

thick8000.jpg

 

Thick8000膜厚測試儀性能優勢

 

1.精密的三維移動平臺
2.的樣品觀測系統
3.良好的圖像識別
4.輕松實現深槽樣品的檢測
5.四種微孔聚焦準直器,自動切換
6.雙重保護措施,實現無縫防撞
7.采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度

全自動智能控制方式,一鍵式操作!
開機自動自檢、復位;
開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣;
關蓋推進樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦;
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點;
點擊軟件界面測試按鈕,自動完成測試并顯示結果。

 

Thick8000膜厚測試儀供應技術指標

 

分析元素范圍:硫(S)~鈾(U
同時檢測元素:zui多24個元素,多達5層鍍層
檢出限:可達2ppm,zui薄可測試0.005μm
分析含量:一般為2ppm99.9%
鍍層厚度:一般在50μm以內(每種材料有所不同)
重復性:可達0.1%
穩定性:可達0.1%
SDD
探測器:分辨率低至135eV
良好的微孔準直技術:zui小孔徑達0.1mm,zui小光斑達0.1mm
樣品觀察:配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器:0.3×0.05mmФ0.1mmФ0.2mmФ0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸:690Wx 575Dx 660Hmm
樣品室尺寸:520Wx 395Dx150Hmm
樣品臺尺寸:393Wx 258 Dmm
X/Y/Z
平臺移動速度:額定速度200mm/s zui高速度333.3mm/s
X/Y/Z
平臺重復定位精度:小于0.1um
操作環境濕度:≤90%
操作環境溫度:15℃~30

 

Thick8000膜厚測試儀供應應用領域

 

膜厚測試儀廣泛應用于PCB板企業、電子企業、五金企業、印制電路企業、半導體芯企業、框架和連接器企業、金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

 

Thick8000膜厚測試儀供應部分產品

 

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